Zariadenia pre organickú elektroniku a fotoniku, napr. pre LED alebo solárne články, obsahujú molekuly, ktorých dôležitou črtou je zakázaný pás (ZP) energií podobne, ako je to u tradičných polovodičov (napr. kremík). Pre praktické účely je dôležitá najmä šírka ZP a to, či v ňom predsa len nie sú nejaké energetické hladiny, ktoré sa môžu objaviť napr. v dôsledku porúch….
Jedna z najkomplexnejších meracích metód, ktorou možno merať hrúbky tenkých vrstiev, ale aj ich fyzikálne vlastnosti je spektroskopická elipsometria. Dokáže analyzovať anorganické aj organické vrstvy od jedného nanometra až po desiatky mikrometrov. Takéto štruktúry predstavujú základ technológie výroby mikro a nanoelektronických súčiastok. Aj keď je elipsometria pomerne stará metóda, postupne sa buduje od konca 19. storočia, má nenahraditeľné miesto vďaka neinváznemu…
Každá látka pohlcuje istý typ elektromagnetického žiarenia. Zložité molekuly organických polovodičovabsorbujú často vo viditeľnej časti spektra. Pohltený fotón spôsobí zvýšenie energie (excitáciu) látky,ktorá sa po čase zbavuje prebytočnej energie opätovným vyžiarením fotónu, ale s nižšou frekvenciou.Meranie spektra žiarenia látky spôsobeného optickou excitáciou sa nazýva fluorescenčná spektroskopia. To, aké svetlo látka pohltí a následne vyžiari veľa napovie o štruktúre samotných molekúl,…
Röntgenová difrakcia je metóda, ktorá hrá kľúčovú úlohu pri štúdiu štruktúry materiálov na mikroskopickej úrovni. Technika je založená na princípe prenikania röntgenového žiarenia hmotou, ktoré prejde cez materiál a je rozptýlené na atómových rovinách skúmaného materiálu. Difraktovaný röntgenový lúč obsahuje informácie o vzdialenostiach medzi atómami v kryštáli, ako aj o ich usporiadaní. Laboratórium RTG difrakcie je vybavené RTG difraktometrom…
