Skúmanie mikroštruktúry materiálov pomocou rtg difrakcie

Röntgenová difrakcia je metóda, ktorá hrá kľúčovú úlohu pri štúdiu štruktúry materiálov na mikroskopickej úrovni. Technika je založená na princípe prenikania röntgenového žiarenia hmotou, ktoré prejde cez materiál a je rozptýlené na atómových rovinách skúmaného materiálu. Difraktovaný röntgenový lúč obsahuje informácie o vzdialenostiach medzi atómami v kryštáli, ako aj o ich usporiadaní. Laboratórium RTG difrakcie je vybavené RTG difraktometrom D8 Advance s vysokým rozlíšením, ktorý môže byť konfigurovaný pre všetky RTG práškové aplikácie, vrátane fázovej identifikácie, kvantitatívnej fázovej analýzy a analýzy kryštálovej štruktúry, zvyškového pnutia a vyšetrovania textúr, RTG reflektometrie a mikrodifrakcie. Zariadenie umožňuje merania Bragg-Brentanovou geometriou ako aj geometriou paralelného lúča, pričom prepínanie medzi týmito geometriami je plne motorizované (softvérovo ovládané). Difraktometer umožňuje merania pri dvoch vlnových dĺžkach v závislosti od typu RTG lampy. K dispozícii je Cu a Co lampa.

Medzi hlavné oblasti výskumu patrí:

  • skúmanie kryštalickej štruktúry polovodičov, ktoré môže a pomôcť pri vývoji nových materiálov s lepšími elektrickými vlastnosťami.
  • kontrola kvality materiálov, ako napr. kovy, polyméry a keramika používaných pri výrobe elektronických zariadení.
  • výskum materiálov pre elektrochemické zariadenia, ako sú batérie, solárne a palivové články.

Viac v článku:

DOBROČKA, Edmund – NOVÁK, Patrik – BÚC, Dalibor – HARMATHA, Ladislav – MURÍN, Justín. X-ray diffraction analysis of residual stresses in textured ZnO thin films. In Applied Surface Science. Vol. 395, (2017), s. 16-23. ISSN 0169-4332 (2017: 4.439 – IF, Q1 – JCR Best Q, 1.093 – SJR, Q1 – SJR Best Q). V databáze: CC: 000390428300004.