Röntgenová fluorescenčná spektrometria je jadrovo-fyzikálna metóda slúžiaca na kvantitatívnu a kvalitatívnu analýzu prvkového zloženia rôznych materiálov. Je založená na princípe röntgenovej fluorescencie, ktorá je definovaná ako emisia charakteristického žiarenia materiálom excitovaným vysokoenergetickým röntgenovým alebo gama žiarením. Výhodou metódy je jej rýchlosť, nedeštruktívnosť a žiadne, resp. minimálne nároky na úpravu vzorky, takže analýzu neznámej vzorky je možné vykonať aj v teréne. Vďaka týmto výhodám nachádza metóda röntgenovej fluorescenčnej spektrometrie široké uplatnenie v oblasti metalurgie, biológie, chémie, environmentalistiky, mineralógie, archeológie a mnohých ďalších. ÚJFI disponuje modulárnym zariadením od firmy AMPTEK, ktoré pozostáva z mini-röntgenového zdroja a zo spektrometra s Si-PIN polovodičovým detektorom. Analýza zaznamenaných röntgenofluorescenčných spektier s cieľom stanovenia presného prvkového zloženia skúmaného materiálu môže byť vykonaná rôznymi spôsobmi, či už s použitím referenčných materiálov alebo fyzikálnych modelov rôznej zložitosti. UJFI v spolupráci so študentami odboru Aplikovanej informatiky vyvíja vlastný softvérový produkt na analýzu spektier založený na metóde fundamentálnych parametrov.