Mikroskopia atomárnych síl (AFM = Atomic Force Microscopy) skúma vlastnosti povrchov vzoriek pomocou silovej interakcie pôsobiacej medzi mikroskopickou sondou a povrchom vzorky. Sondu tvorí ostrý hrot na voľnom konci pružného nosníka. Polomer špičky hrotu je bežne menší ako jedna stotisícina milimetra a hrúbka nosníka je na úrovni jednotiek tisícin milimetra. Nano-sonda je privedená do bezprostrednej blízkosti povrchu vzorky, následne…
Meranie Barkhausenovho šumu (BN) je nedeštruktívna testovacia technika vhodná na hodnotenie zvyškového napätia v materiáloch, ktoré často závisí od prítomnosti defektov akými sú precipitáty, hranice zŕn, či rôzne mriežkové poruchy. Má vysokú citlivosť na objemové defekty vakančného typu, nakoľko dutiny sú zvyčajne obklopené poruchami mriežky a teda spôsobujú brzdenie pohybu doménových stien, ktoré je sledované touto technikou. Metóda ponúka jedinečné…
Pozitrónová anihilačná spektroskopia (PAS) je známa svojou vysokou citlivosťou na defekty vakančného typu a mono-vakancie v koncentráciach už od 0.1 appm. Medzi najrozšírenejšie techniky PAS patria meranie doby života pozitrónov (PALS) a sledovanie Dopplerovho rozšírenia anihilačnej čiary (DBS). Technika PALS je založená na implantácii pozitrónov z pozitrónového zdroja do vzorky a monitorovaní času, ktorý uplynie od tejto implantácie po…
