Mikroskopia atomárnych síl (AFM = Atomic Force Microscopy) skúma vlastnosti povrchov vzoriek pomocou silovej interakcie pôsobiacej medzi mikroskopickou sondou a povrchom vzorky. Sondu tvorí ostrý hrot na voľnom konci pružného nosníka. Polomer špičky hrotu je bežne menší ako jedna stotisícina milimetra a hrúbka nosníka je na úrovni jednotiek tisícin milimetra. Nano-sonda je privedená do bezprostrednej blízkosti povrchu vzorky, následne…
Meranie Barkhausenovho šumu (BN) je nedeštruktívna testovacia technika vhodná na hodnotenie zvyškového napätia v materiáloch, ktoré často závisí od prítomnosti defektov akými sú precipitáty, hranice zŕn, či rôzne mriežkové poruchy. Má vysokú citlivosť na objemové defekty vakančného typu, nakoľko dutiny sú zvyčajne obklopené poruchami mriežky a teda spôsobujú brzdenie pohybu doménových stien, ktoré je sledované touto technikou. Metóda ponúka jedinečné…
Neutronické výpočty predstavujú významnú časť analýz preukazujúcich bezpečnú prevádzku sústav so štiepiteľným materiálom (napr. aktívna zóna reaktora, medzisklad vyhoretého paliva, bazén skladovania, transportný obalový súbor). Pre výpočet transportu neutrónov a ich bilancie v čase sú preferované kódy priamo určené pre výpočet Boltzmanovej transportnej rovnice. Najpoužívanejšie metódy výpočtu v reaktorovej fyzike sú deterministická metóda diskrétnych súradníc (smerov) a stochastická metóda Monte Carlo….
Zariadenia pre organickú elektroniku a fotoniku, napr. pre LED alebo solárne články, obsahujú molekuly, ktorých dôležitou črtou je zakázaný pás (ZP) energií podobne, ako je to u tradičných polovodičov (napr. kremík). Pre praktické účely je dôležitá najmä šírka ZP a to, či v ňom predsa len nie sú nejaké energetické hladiny, ktoré sa môžu objaviť napr. v dôsledku porúch….
Jedna z najkomplexnejších meracích metód, ktorou možno merať hrúbky tenkých vrstiev, ale aj ich fyzikálne vlastnosti je spektroskopická elipsometria. Dokáže analyzovať anorganické aj organické vrstvy od jedného nanometra až po desiatky mikrometrov. Takéto štruktúry predstavujú základ technológie výroby mikro a nanoelektronických súčiastok. Aj keď je elipsometria pomerne stará metóda, postupne sa buduje od konca 19. storočia, má nenahraditeľné miesto vďaka neinváznemu…
Pozitrónová anihilačná spektroskopia (PAS) je známa svojou vysokou citlivosťou na defekty vakančného typu a mono-vakancie v koncentráciach už od 0.1 appm. Medzi najrozšírenejšie techniky PAS patria meranie doby života pozitrónov (PALS) a sledovanie Dopplerovho rozšírenia anihilačnej čiary (DBS). Technika PALS je založená na implantácii pozitrónov z pozitrónového zdroja do vzorky a monitorovaní času, ktorý uplynie od tejto implantácie po…
Detektory latentných stôp v pevnej fáze (SSNTD, z ang. solid-state nuclear track detector) slúžia na pasívnu detekciu ionizujúceho žiarenia. SSNTD sú vhodné pre detekciu ťažkých nabitých častíc, ako sú protóny, alfa častice a ďalšie, prípadne pre detekciu rýchlych neutrónov. Ako materiál detektora môžu byť využité minerály, sklo alebo plasty, v súčasnosti je najviac využívaným materiálom polymér poly-allyl diglykol carbonate (PADC),…
Röntgenová fluorescenčná spektrometria je jadrovo-fyzikálna metóda slúžiaca na kvantitatívnu a kvalitatívnu analýzu prvkového zloženia rôznych materiálov. Je založená na princípe röntgenovej fluorescencie, ktorá je definovaná ako emisia charakteristického žiarenia materiálom excitovaným vysokoenergetickým röntgenovým alebo gama žiarením. Výhodou metódy je jej rýchlosť, nedeštruktívnosť a žiadne, resp. minimálne nároky na úpravu vzorky, takže analýzu neznámej vzorky je možné vykonať aj v…
Laboratórium slúži na výskum a vývoj detektorov na báze perspektívnych polovodičových zlúčenín a na pedagogické účely. Pozostáva z automatizovaného meracieho zariadenia určeného na zisťovanie elektro-fyzikálnych parametrov detektorov meraním ich volt-ampérových charakteristík v rozsahu napätí 0,1 V až 1000 V a prúdov 1 fA až 20 mA. Laboratórium je ďalej vybavené spektrometrickými trasami na zisťovanie spektrometrických vlastností polovodičových detektorov: digitálnou…
Každá látka pohlcuje istý typ elektromagnetického žiarenia. Zložité molekuly organických polovodičovabsorbujú často vo viditeľnej časti spektra. Pohltený fotón spôsobí zvýšenie energie (excitáciu) látky,ktorá sa po čase zbavuje prebytočnej energie opätovným vyžiarením fotónu, ale s nižšou frekvenciou.Meranie spektra žiarenia látky spôsobeného optickou excitáciou sa nazýva fluorescenčná spektroskopia. To, aké svetlo látka pohltí a následne vyžiari veľa napovie o štruktúre samotných molekúl,…
